箱式電阻爐加熱元件的常見(jiàn)故障與元件材質(zhì)、工況條件及操作維護(hù)密切相關(guān)，不同類(lèi)型元件的故障表現(xiàn)存在差異，具體可歸納為以下幾類(lèi)：

氧化脆化斷裂

這是所有類(lèi)型加熱元件的共性故障，也是常見(jiàn)的失效原因。

故障表現(xiàn)：元件表面氧化層增厚、剝落，材質(zhì)變脆，升溫過(guò)程中出現(xiàn)斷裂，尤其在彎折處或懸掛支點(diǎn)附近更易發(fā)生。

誘因：長(zhǎng)期在額定溫度上限運(yùn)行、頻繁啟停導(dǎo)致的熱疲勞、爐膛內(nèi)氧氣含量過(guò)高；鐵鉻鋁元件在高溫下氧化速度會(huì)顯著加快，鎳鉻元件則易因晶界氧化出現(xiàn)沿晶斷裂。

局部過(guò)熱燒熔

故障表現(xiàn)：元件局部出現(xiàn)熔蝕、鼓包甚至熔斷，伴隨爐膛內(nèi)局部溫度異常偏高。

誘因：加熱元件安裝間距過(guò)小，導(dǎo)致熱流疊加形成高溫區(qū)；物料與元件直接接觸，造成局部熱傳導(dǎo)失衡；溫控系統(tǒng)失靈（如熱電偶脫落、固態(tài)繼電器粘連）引發(fā)超溫。

電阻值異常漂移

故障表現(xiàn)：元件電阻值大幅升高，導(dǎo)致?tīng)t體升溫速率變慢、額定溫度無(wú)法達(dá)到，或溫控儀表頻繁報(bào)警。

誘因：碳化硅棒長(zhǎng)期高溫使用后，表面生成玻璃相氧化層，電阻值隨使用時(shí)間逐漸上升；硅鉬棒在低溫段（≤400℃）發(fā)生 “粉化" 氧化，造成電阻值波動(dòng)；元件接線端子氧化，接觸電阻增大。

腐蝕點(diǎn)蝕穿孔

故障表現(xiàn)：元件表面出現(xiàn)點(diǎn)狀凹坑，逐步發(fā)展為穿孔，通電時(shí)出現(xiàn)漏電或短路現(xiàn)象。

誘因：爐膛內(nèi)存在硫、氯、堿金屬等腐蝕性介質(zhì)（如加熱含硫礦物、潮濕物料）；鎳鉻元件在含硫氣氛中易生成低熔點(diǎn)硫化物，破壞氧化保護(hù)層；鐵鉻鋁元件在氯氣氛下會(huì)發(fā)生晶間腐蝕。

熱震開(kāi)裂（針對(duì)非金屬元件）

故障表現(xiàn)：碳化硅棒、硅鉬棒出現(xiàn)橫向或縱向裂紋，通電后電流分布不均，局部過(guò)熱加劇。

誘因：升溫 / 降溫速率過(guò)快，元件內(nèi)外溫差過(guò)大產(chǎn)生熱應(yīng)力；高溫時(shí)突然打開(kāi)爐門(mén)，冷空氣沖擊造成驟冷；裝料時(shí)碰撞元件導(dǎo)致隱性裂紋，后續(xù)高溫工況下裂紋擴(kuò)展。